Máy kiểm tra khuyết tật X-eye 5100F

 Máy kiểm tra khuyết tật X-eye 5100F là giải pháp tối ưu cho kiểm tra X-Ray. Là hệ thống kiểm tra hiệu suất cao cho thử nghiệm phân tích không phá hủy nói chung. Với nhiều chức năng lại dễ sử dụng X-eye 5100F là luôn nằm trong lựa chọn của các doanh nghiệp.

Hệ thống kiểm tra tia X

Với tiêu cự 100kV ~ 130kV cùng ống khép kín siêu nhỏ và đầu dò phẳng độ nét cao được cài đặt và có thể thu được hình ảnh có độ phân giải cao. Với lập trình điều khiển đa trục, máy kiểm tra khuyết tật X-eye 5100F  có thể kiểm tra các đối tượng ở bất kỳ độ phóng đại nào với sự dễ dàng trong quá trình sử dụng. Khách hàng có thể thuận tiện trong quá trình xem xét và bảo trì sản phẩm. Thiết kế đặc biệt có thể thêm vào bất kỳ chức năng cần thiết tùy thuộc vào nhu cầu của khách hàng với giá cả hợp lý.  

• Phân tích không phá hủy các chất bán dẫn, SMT và các thành phần điện tử / điện.
• Kiểm tra S / W có thể được cài đặt để sản xuất hàng loạt các linh kiện điện tử và điện tử / điện tử

Các modun máy ảnh

Các đầu nối

Đèn LED

Các mạch ẩn

Ứng dụng:

– Chất bán dẫn

– Các linh kiện điện tử: các đầu nối, modun máy ảnh, cấu trúc bên trong, các linh kiện ẩn

– Kiểm tra bộ pin, acquy

– Các linh kiện nhựa