Máy kiểm tra khuyết tật X-eye NF 120B

Máy kiểm tra khuyết tật X-eye NF 120B là hệ thống kiểm tra tia X tập trung Nano.

Máy kiểm tra khuyết tật X-eye NF 120B

Đặc điểm của máy cụ thể là:

• Ống lấy nét nano có độ phân giải 400 nano được lắp đặt chuyên dùng cho bao bì bán dẫn, bao bì cấp độ wafer (WLP) yêu cầu phát hiện các khuyết tật Sub-micron.
• Có thể theo dõi và kiểm tra chính xác khu vực bị khuyết bằng chuyển động chính xác của trục với bảng chống rung.
• Tích hợp sẵn chế độ chụp cắt lớp nếu mô-đun CT 3D vào. Kiểm tra tự động wafer Bump từ tải đến kiểm tra với các hệ thống xử lý wafer.
• Hệ thống phân tích không phá hủy đối với bao bì cấp wafer
• Hình ảnh độ phân giải cao với CT loại kép
• Ứng dụng: TSV, Micro Bump, Hoa văn

HPT Việt Nam chuyên nhập khẩu, phân phối, lắp đặt và bảo trì những thiết bị an ninh, máy chuyên dụng như X-eye. Đặt hàng số lượng càng lớn giá HPT Việt Nam càng ưu đãi cao. Thời gian chỉ từ 4- 6 tuần cho các đơn hàng lớn và đơn hàng lẻ ngay trong ngày.