Máy X-Ray Kiểm Tra Khuyết Tật SEC X-eye NF120

Máy X-Ray SEC X-eye NF120 là hệ thống kiểm tra khuyết tật bản mạch tia X. Ống tiêu điểm nano có độ phân giải 400 nano được lắp đặt chuyên dùng cho Bao bì bán dẫn, Bao bì cấp Wafer (WLP) yêu cầu phát hiện các khuyết tật dưới micromet. 
Có thể theo dõi và kiểm tra khu vực bị đào thoát một cách chính xác bằng chuyển động chính xác của trục với bàn chống rung. Tomography có sẵn nếu mô-đun 3D CT được thêm vào và Kiểm tra tự động Wafer Bump có sẵn từ khi tải đến khi kiểm tra với hệ thống xử lý wafer.

Máy X-Ray Kiểm Tra Khuyết Tật SEC X-eye NF120

Đặc điểm, tính năng nổi bật

• Hệ thống phân tích không phá hủy cho Bao bì cấp Wafer
• Hình ảnh có độ phân giải cao với CT loại kép
• TSV, Micro Bump, Mẫu
• Phân tích không phá hủy cho Bao bì cấp Wafer
• Hình ảnh có độ phân giải cao với CT loại kép

Liên hệ ngay qua số hotline 0909 668 443 (HCM) hoặc 0903 790 902 (HN) để được tư vấn và báo giá tốt nhất.

–

5 LÝ DO CHỌN HPT VIỆT NAM LÀM ĐỐI TÁC CUNG ỨNG 

 Giá cam kết rẻ nhất thị trường: Nhập khẩu trực tiếp từ hãng, không qua trung gian, giá luôn tốt nhất.

 Hàng hóa chính hãng: Các sản phẩm đều có chứng nhận CO và CQ, bảo hành chính hãng từ nhà sản xuất.

 Lắp đặt và bảo hành tận nơi trên toàn quốc

 Tư vấn giải pháp miễn phí từ các chuyên gia 10 năm kinh nghiệm trong ngành

 Chiết khấu cao cho cộng tác viên (CTV) và đại lý.